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          电子产品需要高低温老化测试的主要因素

          日期:2019-7-23 10:35:55 人气:
              跟着电子技术的展开,电子产品的集成化程度越来越高,结构越来越纤细,工序越来越多,制造工艺越来越凌乱,这样在制造进程中会发作一些匿伏缺陷。电子产品高低温试验箱电子产品在出产制造时,因规划不合理、原材料或工艺方法方面的原因引起产品的质量问题概括有两类。





              第一类是产品的性能参数不合格,出产的产品不符合运用要求; 第二类是潜在的缺陷,这类缺陷不能用一般的检验方法发现,而需求在运用进程中逐渐地被显露,如硅片表面污染、组织不稳定、焊接空泛、芯片和管壳热阻匹配不良等等。

              一般这种缺陷需求在元器件作业于额定功率和正常作业温度下工作一千个小时左右才华全部被激活(显露)。显着,对每只元器件检验一千个小时是不现实的,所以需求对其施加热应力和偏压,例如进行高温功率应力试验,来加速这类缺陷的提前显露。

              也就是给电子产品施加热的、电的、机械的或多种概括的外部应力,仿照严厉作业环境,消除加工应力和剩下溶剂等物质,使匿伏缺陷提前出现,从速使产品通过失效浴盆特性初期阶段,进入高可靠的稳守时。

              通过高温老化可以使元器件的缺陷、焊接和装置等出产进程中存在的风险提前显露,老化后再进行电气参数测量,选择除去失效或变值的元器件,尽可能把产品的前期失效消除在正常运用之用,从面保证出厂的产品能经得起时间的检测。
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